Ogłoszenia o udzielonych prawach: patentach na wynalazki i świadectwach ochronnych na wzory użytkowe

Wiadomości Urzędu Patentowego nr 2/2011
Sposób pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych oraz interferometr do pomiaru   przemieszczeń liniowych i kątowych
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 207983 z dnia 2007 02 05
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01B 9/02 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Wrocławska, Wrocław (PL)
Twórca: Budzyń Grzegorz, Rzepka Janusz

Wiadomości Urzędu Patentowego nr 3/2011
Pochyłomierz
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 208036 z dnia 2006 12 11
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 9/06 (2006.01); G01C 9/18 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Uniwersytet Przyrodniczy we Wrocławiu, Wrocław (PL)
Twórca: Ćmielewski Kazimierz, Jamroz Olgierd, Kowalski Krzysztof

Wiadomości Urzędu Patentowego nr 4/2011
Sposób wytwarzania planszy segmentowej, zwłaszcza mapy lub planu
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 208371 z dnia 2006 06 12
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G09B 29/04 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Przeorek Janusz, Warszawa (PL)
Twórca: Przeorek Janusz

Wiadomości Urzędu Patentowego nr 5/2011
Sposób pomiaru rozkładu odkształceń w torze bezstykowym, stosowanym zwłaszcza w trakcji kolejowej
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 208704 z dnia 2008 03 17
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01B 11/16 (2006.01); B61K 9/08 (2006.01); E01B 35/00 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Gdańska, Gdańsk (PL)
Twórca: Wilde Krzysztof, Zasada Michał

Wiadomości Urzędu Patentowego nr 6/2011
Układ polaryzacyjno-interferencyjny, zwłaszcza do pomiaru małych przemieszczeń kątowych
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 208942 z dnia 2007 12 24
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01B 9/02 (2006.01); G01B 11/00 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Wrocławska, Wrocław (PL)
Twórca: Kurzynowski Piotr, Woźniak Władysław Artur, Masajada Jan