Publikacje naukowe i konferencje

Crop Yield Modelling Applying Leaf Area Index from Sentinel-2 and Proba-V Data at JECAM site in Poland
Crop Yield Modelling Applying Leaf Area Index from Sentinel-2 and Proba-V Data at JECAM site in Poland
Dąbrowska-Zielińska K., Bartold M., Gurdak R., et al.
Rodzaj: Publikacje
Centrum: Centrum Teledetekcji
Rok publikacji: 2018