Wiadomości Urzędu Patentowego 2016
Ogłoszenia o udzielonych prawach: patentach na wynalazki i świadectwach ochronnych na wzory użytkowe z dziedziny geodezji i kartografii i z dziedzin pokrewnych
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 9/2016
Interferometr do pomiaru przemieszczeń liniowych
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 222888 z dnia 2011 03 29
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01B 9/00 (2006.01); G01B 9/02 (2006.01)
Uprawniony z patentu: POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa (PL)
Twórca: Dobosz Marek, Zamiela Grzegorz
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 7/2016
Przenośne stanowisko do oceny dokładności pomiarów geodezyjnych
Nr prawa ochronnego i data zgłoszenia wzoru użytkowego: 68505 z dnia 2014 10 20
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 25/00 (2006.01); G01S 7/02 (2006.01); G01S 7/497 (2006.01)
Uprawniony z prawa ochronnego: AKADEMIA GORNICZO-HUTNICZA im. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków (PL)
Twórca: Ortyl Łukasz, Kocierz Rafał, Kuras Przemysław, Owerko Tomasz
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 6/2016
Pochyłomierz do pomiaru zmian nachylenia obiektów
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 222129 z dnia 2012 12 20
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 9/06 (2006.01); G01C 9/12 (2006.01)
Uprawniony z patentu: INSTYTUT GEODEZJI I KARTOGRAFII, Warszawa (PL); OLBRYSZ PIOTR OLBRYSZ ELECTRONIC SPÓŁKA CYWILNA, Warszawa (PL); OLBRYSZ MICHAŁ OLBRYSZ ELECTRONIC SPÓŁKA CYWILNA, Warszawa (PL)
Twórca: Kołodziejczyk Mieczysław, Olbrysz Piotr
Sposób wyznaczania elementów ekscentru osi głównej instrumentu kątomierczego względem punktu pomiarowego i układ instrumentu kątomierczego do wyznaczania elementow ekscentru osi głównej instrumentu kątomierczego względem punktu pomiarowego
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 222058 z dnia 2012 12 19
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/00 (2006.01); G01C 1/02 (2006.01); G12B 5/00 (2006.01)
Uprawniony z patentu: AKADEMIA GORNICZO-HUTNICZA im. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków (PL)
Twórca: Gruszczyński Wojciech, Szczutko Tadeusz
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 5/2016
Sposób wyznaczania miejsca i wielkości przemieszczenia pionowego oraz układ do wyznaczania miejsca i wielkości przemieszczenia pionowego
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 221713 z dnia 2012 10 01
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 5/04 (2006.01)
Uprawniony z patentu: NEOSTRAIN SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków (PL)
Twórca: Stoliński Marek, Bednarski Łukasz
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 3/2016
Magnetyczny czujnik do pomiaru przemieszczeń
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 221326 z dnia 2011 03 21
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01D 5/14 (2006.01); G01B 7/00 (2006.01)
Uprawniony z patentu: NEF CZESŁAW, Olsztyn (PL); MOKRZECKI ARKADIUSZ BERNARD, Pajtuny (PL)
Twórca: Nef Czesław, Mokrzecki Arkadiusz Bernard
Urządzenie pomiarowe do tyczenia lub obmiarowania
Nr prawa ochronnego i data zgłoszenia wzoru użytkowego: 68316 z dnia 2011 05 02
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/00 (2006.01); E04G 21/16 (2006.01)
Uprawniony z prawa ochronnego: UNIWERSYTET WARMIŃSKO-MAZURSKI W OLSZTYNIE, Olsztyn (PL)
Twórca: Bednarczyk Michał
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 2/2016
Światłowodowy żyroskop laserowy
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 220969 z dnia 2004 03 16
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 19/72 (2006.01); G01C 19/66 (2006.01)
Uprawniony z patentu: PRZEDSIĘBIORSTWO PROJEKTOWO-WDROŻENIOWE AWAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Warszawa (PL)
Twórca: Galiński Jan, Kowalski Henryk
Sposób i urządzenie do pomiaru odległości
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 220976 z dnia 2010 11 29
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01S 17/00 (2006.01); G01S 17/10 (2006.01); G01S 17/32 (2006.01); G01C 3/00 (2006.01)
Uprawniony z patentu: POLITECHNIKA ŚLĄSKA, Gliwice (PL)
Twórca: Wieczorek Grzegorz